박막의 전기광학적 특성 비접촉식 측정 시스템 및 방법(non-contact measuring system amd method …
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| 발명의명칭 | 박막의 전기광학적 특성 비접촉식 측정 시스템 및 방법(non-contact measuring system amd method for optoelectronic properties of thin film) |
|---|---|
| 출원인 | 한국과학기술연구원 |
| 발명자 | 서민아 |
| 출원번호 | 2017-0118866 |
| 출원일자 | 2017.09.15 |
| 출원/등록 | 등록 |
| 대분류 | 의료기기 |
| 중분류 | 진단기기 |
| 소분류 | 생체신호 측정/진단기기 |
